一种LED芯片测试的多波段校准方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201510738342.8 （22）申请日 2015.11.03

（71）申请人 山东浪潮华光光电子股份有限公司

地址 261061 山东省潍坊市高新区金马路9号

（10）申请公布号 CN105388439A

（43）申请公布日 2016.03.09

（72）发明人 王彦丽;徐现刚

（74）专利代理机构 济南金迪知识产权代理有限公司

代理人 吕利敏

（51）Int.CI

G01R35/00;

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种LED芯片测试的多波段校准方法

（57）摘要

一种LED芯片测试的多波段校准方法，包

括步骤如下：制作标准样片；利用标准机测试所述标准样片得到所述标准样片各波段的波长；利用标准机确定所述标准样片的起始点和点测方向；利用生产机台测试所述标准样片得到所述标准样片各波段的波长；数据比对采取点对点对应分波段比对：将标准机测试标准样片的波长与所述差值做散点图；根据所述散点图对各波段修

正；按照所述修正方法将所述生产机台与标准机的各波段校准一致。本发明所述的校准方法对设备进行校准后，提高了测试准确性与一致性，测量值随晶粒尺寸、晶粒间距及环境变化的误差小。采用本发明所述方法校准后的测量设备对LED芯片进行测试时，其测试数据精确可靠，同时不同生产机台各波段的误差小。

法律状态

法律状态公告日2016-03-09 2016-04-06

法律状态信息

公开

实质审查的生效

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公开

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权利要求说明书

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说明书

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