（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201711329579.6 （22）申请日 2017.12.13
（71）申请人 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
地址 100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号
（10）申请公布号 CN108197351A
（43）申请公布日 2018.06.22
（72）发明人 徐小倩;喻贤坤;刘松林;樊旭;彭斌;穆辛;王莉;李健;姜爽;孔瀛;毛鹤莉;王潇潇;莫艳图;宋奎鑫;李卓
（74）专利代理机构 中国航天科技专利中心
代理人 庞静
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法
（57）摘要
本发明提供了一种受单片机控制的集成电
路的仿真验证方法，包括如下步骤：(1)、编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；(2)、将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；(4)、将可执行测试程序转换成*.memh文件形式；(5)、编写仿真验
证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。本发明提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。
法律状态
法律状态公告日
2018-06-22 2018-06-22 2018-07-17
法律状态信息
公开 公开
实质审查的生效
法律状态
公开 公开
实质审查的生效
权利要求说明书
一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法的说明书内容是....请下载后查看
